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武漢電氣網(wǎng)

全武漢電氣網(wǎng)信息

共找到 206 條信息
  • SMU電流模塊

    SMU電流模塊

    SMU電流模塊認準普賽斯儀表,普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準確度提升至±0.03%,直流電流升級至3A,可為半導體行業(yè)提供更加精準、穩(wěn)定的測試方案?;詳詢一八一四零六六三四七六; S型數(shù)字源表應用優(yōu)勢: 1、多功能
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    2025-02-27
  • 功率模塊igbt測試設備igbt測試儀

    功率模塊igbt測試設備igbt測試儀

    普賽斯功率模塊igbt測試設備igbt測試儀,集多種測量和分析功能一體,可以精準測量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導體等)的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、μΩ級J確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結電容,如
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    2025-02-27
  • 壓力傳感器測試儀

    壓力傳感器測試儀

    通常,壓力傳感器Ⅳ特性測試需要幾臺儀器完成,如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而,由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析,過程既復雜又耗時,還占用過多測試臺的空間。而且,使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復雜的相互間觸發(fā)操作,有更大的
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    2025-02-27
  • 半導體器件電性能測試儀表高精度數(shù)字源表

    半導體器件電性能測試儀表高精度數(shù)字源表

    半導體器件電性能測試儀表高精度數(shù)字源表找普賽斯儀表,普賽斯數(shù)字源表國產(chǎn)自主研發(fā),對標美國2400,B2901;可實現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測量同步進行,提高測試效率;支持四象限工作,測量范圍廣,電壓高至300V,電流低至10pA;支持USB存儲,一鍵導出數(shù)據(jù)報告;5寸觸摸顯示屏
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    2025-02-27
  • 數(shù)字源表搭建MOS電容CV特性測試實驗平臺

    數(shù)字源表搭建MOS電容CV特性測試實驗平臺

    系統(tǒng)方案 普賽斯半導體功率器件C-V測試系統(tǒng)主要由源表、LCR表、矩陣開關和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)負責提供可調(diào)直流電壓偏置,通過矩陣開關加載在待測件上。 進行 C-V 測量時,通常在電容兩端施加直流偏壓,同時利用一個交流信
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    2025-02-27
  • SMU數(shù)字源表搭建微電子教學實驗平臺

    SMU數(shù)字源表搭建微電子教學實驗平臺

    在半導體材料和器件的研究中,電性能測試是必不可少的環(huán)節(jié)。隨著半導體技術的提升,微電子工藝逐漸復雜,如何對微電子材料器件進行高效率測試成為業(yè)內(nèi)關注的重點。普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號國產(chǎn)化數(shù)字源表SMU,為進一步打通測試融合壁壘,打造閉環(huán)解決方案,通過對半導體高
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    2025-02-27
  • 半導體性能檢測設備iv曲線測試儀

    半導體性能檢測設備iv曲線測試儀

    實施特性參數(shù)分析的最佳工具之一是數(shù)字源表(SMU)。普賽斯歷時多年打造了高精度、大動態(tài)范圍、率先國產(chǎn)化的源表系列產(chǎn)品,集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體??勺鳛楠毩⒌暮銐涸椿蚝懔髟础⒎赜?、安培計和歐姆表,還可用作精密電子負載。其高性能架構還允許將其
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    2025-02-27
  • 電化學實驗循環(huán)伏安測試儀

    電化學實驗循環(huán)伏安測試儀

    電化學電池的三個電極是工作電極 (WE)、基準電極 (RE) 和反(或輔助)電極 (CE)。WE 和 CE 之間使用雙極性可編程電源進行電壓掃描。RE與 WE 之間的電位E使用數(shù)字電壓表測量,然后調(diào)節(jié)雙極性可編程電源輸出電壓VS,使E為希望的電位值,這時使用萬用表測量流入WE的電流I。之后
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    2025-02-27
  • 功率半導體參數(shù)測試儀3500V/1000A

    功率半導體參數(shù)測試儀3500V/1000A

    普賽斯PMST功率半導體參數(shù)測試儀3500V/1000A,主要包括測試主機、測試線、測試夾具、電腦、上位機軟件,以及相關通訊、測試配件等構成。整套系統(tǒng)采用普賽斯自主開發(fā)的測試主機,內(nèi)置多種規(guī)格電壓、電流、電容測量單元模塊。結合專用上位機測試軟件,可根據(jù)測試項目需要,設
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    2025-02-27
  • 半導體器件參數(shù)測試儀半導體參數(shù)分析儀

    半導體器件參數(shù)測試儀半導體參數(shù)分析儀

    SPA-6100半導體器件參數(shù)測試儀半導體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿
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    2025-02-27
  • 半導體靜態(tài)參數(shù)測試儀+功率器件測試設備

    半導體靜態(tài)參數(shù)測試儀+功率器件測試設備

    普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備,產(chǎn)品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案,為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段,實現(xiàn)功率半導體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和
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    2025-02-27
  • 低壓型數(shù)字源表

    低壓型數(shù)字源表

    數(shù)字源表現(xiàn)廣泛用于半導體器件特性測試中,省錢省地,節(jié)約測試臺空間,同時實現(xiàn)了大動態(tài)測試范圍,集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體,普賽斯源表相對于進口源表,測試范圍更廣,價格更便宜!最大輸出電壓達300V,最小測試電流達100pA,支持四象限工作;SXXB系列
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    2025-02-27
  • 直流3A半導體分立器件測試儀

    直流3A半導體分立器件測試儀

    通常分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成,如數(shù)字萬用表、 電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析,過程既復雜又耗時,又占用過多測試臺的空間;實施半導體分立器件特性參數(shù)分析的最佳工具之一是數(shù)字源表(SMU)。數(shù)字源表
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    2025-02-27
  • 30A+1us脈沖源

    30A+1us脈沖源

    30A+1us脈沖源的簡述: 作用: 主要應用于VCSEL激光器、大功率LED的測試 功能: 實現(xiàn)窄脈沖加電的LIV測試 特點: (1)超窄脈沖大電流電流加電,能夠滿足VCSEL的晶圓和芯片的測試需要; (2)支持脈沖光功率和器件脈沖電壓采樣功能。是LIV測試的系統(tǒng)解決方案; (3
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    2025-02-27
  • 半導體IV特性曲線分析儀

    半導體IV特性曲線分析儀

    半導體IV特性曲線分析儀認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六;普賽斯五合一高精度數(shù)字源表(SMU)可為高??蒲泄ぷ髡摺⑵骷y試工程師及功率模塊設計工程師提供測量所需的工具,接線簡單、方便操作。 利用數(shù)字源表簡化半導體分立器件特性參數(shù)測試
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    2025-02-27
  • 半導體分立器件測試設備高電壓+大電流

    半導體分立器件測試設備高電壓+大電流

    實施半導體分立器件特性參數(shù)分析的最佳工具之一是數(shù)字源表(SMU)。數(shù)字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表,還可用作精密電子負載,其高性能架構還允許將其用作脈沖發(fā)生器、波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng),支持四象限工作。 利用數(shù)
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    2025-02-27
  • 場效應MOS管特性曲線測試國產(chǎn)源表

    場效應MOS管特性曲線測試國產(chǎn)源表

    使用普賽斯S系列高精度數(shù)字源表、P系列高精度臺式脈沖源表對MOSFET常見參數(shù)進行測試。 輸入/輸出特性測試 針對1A以下的MOSFET器件,推薦2臺S系 列源表搭建測試方案,Z大電壓300V,Z大電流1A, 最小電流100pA,可以滿足小功率MOSFET測試的需求。 針對Z大電流為
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    2025-02-27
  • 三極管反向擊穿電壓測試SMU數(shù)字源表

    三極管反向擊穿電壓測試SMU數(shù)字源表

    三極管是半導體基本元器件之一,設計電路中常常會關注的參數(shù)有電流放大系數(shù)β、極間反向電流ICBO、ICEO、集電極最大允許電流ICM、反向擊穿電壓VEBO、VCBO、VCEO以及三極管的輸入輸出特性曲線等參數(shù)。 根據(jù)材料以及用途不同,三極管器件的電壓、電流技術參數(shù)也不同,針對1A以
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    2025-02-27
  • 二極管反向漏電流測試國產(chǎn)源表

    二極管反向漏電流測試國產(chǎn)源表

    普賽斯二極管反向漏電流測試國產(chǎn)源表 二極管是一種使用半導體材料制作而成的單向導 電性元器件,產(chǎn)品結構一般為單個PN結結構,只允許電流從單一方向流過。發(fā)展至今,已陸續(xù)發(fā)展出整流二 極管、肖特基二極管、快恢復二極管、PIN二極管、光電 二極管等,具有安全可靠等
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    2025-02-27
  • 憶阻器IV測試脈沖恒壓源CP系列

    憶阻器IV測試脈沖恒壓源CP系列

    CP系列脈沖恒壓源是武漢普賽斯儀表推出的窄脈寬、高精度、寬量程插卡式脈沖恒壓源。設備支持窄脈沖電壓輸出,并同步完成輸出電壓及電流測量;支持多設備觸發(fā)實現(xiàn)器件的脈沖IV掃描等;支持輸出脈沖時序(如延遲、脈寬、周期等參數(shù)變量等)調(diào)節(jié),可輸出復雜曲線。主要特點有:
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    2025-02-27
  • PMST-3500V大功率激光器LIV測試及老化系統(tǒng)

    PMST-3500V大功率激光器LIV測試及老化系統(tǒng)

    普賽斯PMST-3500V大功率激光器LIV測試及老化系統(tǒng)是專為解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發(fā)熱嚴重等問題而創(chuàng)新開發(fā)推出的一套通用性好、大功率、循環(huán)水冷的老化測試系統(tǒng)。產(chǎn)品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩(wěn)定、
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    2025-02-27
  • CTMS-1000A霍爾電流傳感器測直流電流平臺

    CTMS-1000A霍爾電流傳感器測直流電流平臺

    CTMS-1000A霍爾電流傳感器測直流電流平臺集多種測量和分析功能一體,可精準測量各種電流傳感器(霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等)的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù),單臺大電流源電流可高達1000A。該系統(tǒng)可測量不同電流傳感器的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù),具有大電流特性、極快的達到50A/us
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    2025-02-27
  • 射頻器件頻率特性測試SMU源表

    射頻器件頻率特性測試SMU源表

    GaNHEMT器件的評估一般包含直流特性(直流l-V測試)、頻率特性(小信號S參數(shù)測試)、功率特性(Load-Pull測試)。 頻率特性測試 射頻器件的頻率參數(shù)測試包含小信號S參數(shù)、互調(diào)(IMD)、噪聲系數(shù)和雜散等特性的測量。其中,S參數(shù)測試描述了RF器件在不同頻率下和對于信號的不同
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    2025-02-27
  • 16路激光器老化測試系統(tǒng)

    16路激光器老化測試系統(tǒng)

    16路激光器老化測試系統(tǒng)特點 單抽屜最多支持16路8抽屜; 各通道互相獨立; 電流回讀,同步自動測量電壓、光功率等數(shù)據(jù); 加熱膜加熱,溫控范圍:室溫~125℃; 電源抗浪涌設計; 收光裝置水冷; 絕對精度±1℃,不同DUT溫度均勻性±2℃; 老化數(shù)據(jù)自動記
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    2025-02-27
  • 數(shù)字源表如何選型

    數(shù)字源表如何選型

    目前市場上數(shù)字源表琳瑯滿目,如何選擇適合自己、或性價比高的源表成為眾多買家比較頭疼的問題,其實只要了解到以下參數(shù),就不難選型了: 1、源的輸出范圍 2、通道數(shù) 3、是否支持脈沖輸出 4、測量的精度 5、測量的速度(采樣率)等 確定了以上參數(shù)后,就
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    2025-02-27
  • 數(shù)字源表測試柔性電子材料

    數(shù)字源表測試柔性電子材料

    柔性電子又稱為塑料電子、印刷電子、有機電子、聚合體電子等,將有機或者無機材料電子器件制作在柔性、可延性塑料或薄金屬基板上的新興電子技術。由于FPC柔性線路板及電子系統(tǒng)可實現(xiàn)彎曲、折疊、延展,且功能不會因此而受到影響,其獨特的柔性和延展性使得柔性電子在信息、
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    2025-02-27
  • 數(shù)字源表測LDO芯片電性能

    數(shù)字源表測LDO芯片電性能

    LDO,全稱為“Low Dropout Regulator”,是一種低壓差線性穩(wěn)壓元器件。其工作原理為,使用在其飽和區(qū)域內(nèi)運行的晶體管或場效應管(FET),從應用的輸入電壓中減去超額的電壓,產(chǎn)生經(jīng)過調(diào)節(jié)的輸出電壓。相比于傳統(tǒng)的DC-DC變換器,LDO具有成本低,噪音低,靜態(tài)電流小的特點,需
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    2025-02-27
  • 數(shù)字源表測電阻率四探針法

    數(shù)字源表測電阻率四探針法

    電阻率是用來表示各種物質電阻特性的物理量,某種材料制成的長為1米,橫截面積為1平方米的導體的電阻,在數(shù)值上等于這種材料的電阻率。它反映物質對電流阻礙作用的屬性,它與物質的種類有關,還受溫度、濕度等因素的影響。在實際中我們可能需要測試一些薄而平的材料的電阻率
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    2025-02-27
  • 高電流脈沖電源測試電流傳感器響應時間

    高電流脈沖電源測試電流傳感器響應時間

    高電流脈沖電源測試電流傳感器響應時間認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六 ;高電流脈沖電源為脈沖恒流源,具有輸出電流大(1000A)、脈沖邊沿陡(10uS)、支持兩路脈沖電壓測量(峰值采樣)、支持輸出極性切換等特點。 設備可廣泛應用于肖特
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    2025-02-27
  • A400型數(shù)據(jù)采集卡

    A400型數(shù)據(jù)采集卡

    A400數(shù)據(jù)采集卡,是一款普賽斯自主設計開發(fā)的插卡式,支持可變速率采樣和大容量數(shù)據(jù)存儲的高精度數(shù)據(jù)采集卡。 采集卡使用高性能ADC芯片,分辨率可達16bits,最高支持2MS/s采樣率。單采集卡支持4通道,且通道間隔離。采集卡可應用于我司3插卡或10插卡主機上,單主機最高支
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    2025-02-27
  • 大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀

    大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀

    大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀集多種測量和分析功能一體,可精準測量功率器件(MOSFET、BJT、IGBT等)的靜態(tài)參數(shù),電壓可高達3KV,電流可高達4KA。該系統(tǒng)可測量不同封裝類型的功率器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性,uΩ級電阻,pA級電流精準測量等特點。支持高壓模式下測量
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    2025-02-27
  • 替代2657高壓程控電源

    替代2657高壓程控電源

    E系列高壓程控電源 特點和優(yōu)勢: 10ms級的上升沿和下降沿; 單臺最大3000V的輸出; 同步電流測量; 替代2657高壓程控電源具有輸出及測量電壓高(3000V)、能輸出及測量微弱電流信號(1nA)的特點。設備工作在第一象限,輸出及測量電壓0~3000V,輸出及測量電
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    2025-02-27
  • 3000V/4000A功率器件分析儀

    3000V/4000A功率器件分析儀

    普賽斯3000V/4000A功率器件分析儀特點和優(yōu)勢: 單臺Z大3000V輸出; 單臺Z大1000A輸出,可并聯(lián)后Z大4000A; 10us的超快電流上升沿; 同步測量; 國標全指標的自動化測試;詳詢一八一四零六六三四七六 普賽斯3000V/4000A功率器件分析儀集多種測量和分
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    2025-02-27
  • 國產(chǎn)半導體參數(shù)分析儀

    國產(chǎn)半導體參數(shù)分析儀

    國產(chǎn)半導體參數(shù)分析儀可測項目 集電極-發(fā)射極電壓Vces,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces 集電極-發(fā)射極飽和電壓Vce sat 集電極電流Ic,集電極截止電流Ices 柵極漏電流Iges,柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th) 柵極電阻Rg 電容測量 I-V特性曲線掃描,C-
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    2025-02-27
  • 國產(chǎn)脈沖源表IV測試憶阻器

    國產(chǎn)脈沖源表IV測試憶阻器

    國產(chǎn)脈沖源表IV測試憶阻器認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六;P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,Z大脈沖輸出電流達10A,Z大輸出電壓達300V,支持四象限工
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    2025-02-27
  • 脈沖電流源LIV測試光纖激光器泵浦源

    脈沖電流源LIV測試光纖激光器泵浦源

    脈沖電流源LIV測試光纖激光器泵浦源認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六 liv脈沖電流源的簡述: 作用: 主要應用于激光雷達的激光器測試 功能: 實現(xiàn)窄脈沖加電的LIV測試 特點: (1)超窄脈沖大電流電流加電,能夠滿足VCSEL的晶圓和芯片的
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    2025-02-27
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