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霍爾延時響應(yīng)測試系統(tǒng)電流傳感器測試設(shè)備
產(chǎn)品簡介 霍爾延時響應(yīng)測試系統(tǒng)電流傳感器測試設(shè)備集多種測量和分析功能一體,可精準(zhǔn)測量各種電流傳感器(霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等)的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù),單臺大電流源電流可高達1000A。該系統(tǒng)可測量不同電流傳感器的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù),具有大電流特性、極快面議2025-04-08 -
LIV光電特性測試脈沖恒流源
LIV光電特性測試脈沖恒流源認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,廠家直銷,服務(wù)完善,詳詢一八一四零六六三四七六;PL系列脈沖電流源是針對大功率激光器LIV測試而研制的,觸摸顯示屏全圖形化操作,高靈敏度寬帶光功率檢測,內(nèi)置LIV測試軟件加速用戶完成測試,具有輸出電流脈沖窄、輸出脈沖電流面議2025-04-08 -
大功率igbt模塊測試設(shè)備功率器件靜態(tài)參數(shù)測試儀
普賽斯大功率igbt模塊測試設(shè)備功率器件靜態(tài)參數(shù)測試儀,集多種測量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導(dǎo)體等)的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、μΩ級J確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率面議2025-04-08 -
半導(dǎo)體參數(shù)測試儀CV+IV曲線掃描儀
SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)測試儀CV+IV曲線掃描儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿材料研面議2025-04-08 -
半導(dǎo)體特性曲線測試儀IV曲線掃描儀
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出,全系列產(chǎn)品豐富,新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準(zhǔn)確度提升至±0.03%面議2025-04-08 -
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)測試設(shè)備
普賽斯半導(dǎo)體分立器件測試設(shè)備,集多種測量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測量IGBT功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。詳詢一八一四零六六三四七六面議2025-04-08 -
功率器件功能高壓測試模塊
E系列功率器件功能高壓測試模塊特點和優(yōu)勢: 十ms級的上升沿和下降沿; 單臺最大3500V的輸出; 0.1%測試精度; 同步電流或電壓測量; 支持程控恒壓測流,恒流測壓,便于掃描測試;詳詢一八一四零六六三四七六; 部分參數(shù) 最大輸出功率:350W,3500V面議2025-04-08 -
國產(chǎn)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀1200V/100A
SPA-6100國產(chǎn)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試;SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以幫助面議2025-04-08 -
大電流電源3000A電流源
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導(dǎo)體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備,產(chǎn)品覆蓋半導(dǎo)體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU)的第三代半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案,為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段,實現(xiàn)功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和面議2025-04-08 -
E系列功率器件功能高壓測試模塊
武漢普賽斯儀表有限公司,是一家專注于半導(dǎo)體的電性能測試儀表的開發(fā)、生產(chǎn)與銷售的研發(fā)型高新技術(shù)企業(yè)。公司以源表為核心產(chǎn)品,專注于第三代半導(dǎo)體測試,提供從材料、晶圓、器件的全系列解決方案。 未來,普賽斯儀表基于國產(chǎn)化高精度數(shù)字源表(SMU)的測試方案,以更優(yōu)面議2025-04-08 -
精密國產(chǎn)電流源高精度IV曲線測試掃描儀
精密國產(chǎn)電流源高精度IV曲線測試掃描儀優(yōu)勢 ? 性能強大-作為電壓源和或電流源,并同步測量電流和或電壓,支持四象限工作??梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮?,預(yù)防器件損壞。覆蓋0-3A的電流范圍0-300V的電壓范圍,全量程測量精度0.03%。 ? 靈活多樣-支持兩線制和四線制測量面議2025-04-08 -
旁路二極管熱性能測試脈沖電流源
熱斑效應(yīng):太陽能電池一般是由多塊電池組件串聯(lián)或并聯(lián)起來。串聯(lián)支路中可能由于電池片內(nèi)部缺陷或者外部遮擋,將被當(dāng)作負(fù)載消耗其他有光照的太陽電池組件所產(chǎn)生的能量。被遮蔽的太陽電池組件此時會嚴(yán)重發(fā)熱而受損。旁路二極管是指并聯(lián)于太陽能電池板正負(fù)極兩端之間的二極管,面議2025-04-08 -
apd暗電流測試數(shù)字源表
在APD的光電特性中,暗電流是一個重要的參數(shù)。暗電流是指在沒有光照射的情況下,APD中由于熱激發(fā)等原因?qū)е碌碾娮悠坪碗娮?空穴對產(chǎn)生而產(chǎn)生的電流,暗電流測試的準(zhǔn)確性對于評估APD的性能和穩(wěn)定性非常重要。在進行APD暗電流測試時,通常面臨如下挑戰(zhàn):測試環(huán)境影響、連接面議2025-04-08 -
晶體管iv圖示儀分立器件檢測儀
晶體管泛指一切以半導(dǎo)體材料為基礎(chǔ)的單一元件,是一種半導(dǎo)體器件,放大器或電控開關(guān)常用;包括各種半導(dǎo)體材料制成的二極管、三極管、場效應(yīng)管、晶閘管(后三者均為三端子)等。晶體管具有檢波、整流、放大、開關(guān)、穩(wěn)壓、信號調(diào)制等多種功能,晶體管可用于各種各樣的數(shù)字和模面議2025-04-08 -
二三極管iv測試儀iv曲線掃描儀
半導(dǎo)體分立器件根據(jù)基材不同,可分為不同類型。以硅基半導(dǎo)體為基材時,半導(dǎo)體分立器件主要包括二極管(Diode)、三極管(BJT)、晶閘管(SCR)、場效應(yīng)晶體管(MOSFET)、絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)等;以寬禁帶材料半導(dǎo)體為基材時,半導(dǎo)體分立器件主要包括:SiC.GaN半導(dǎo)體功率器件。面議2025-04-08 -
高電壓大電流功率器件測試機
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導(dǎo)體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備,產(chǎn)品覆蓋半導(dǎo)體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU)的第三代半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案,為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段,實現(xiàn)功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和面議2025-04-08 -
電阻式傳感器電性能分析SMU數(shù)字源表
電阻式傳感器電性能分析SMU數(shù)字源表 實時測試多種材料在同-環(huán)境條件下的電阻值的反應(yīng)靈敏; 在低電壓下進行下高范圍跨度(Q、 KQ、MQ、GQ)的電阻測量,測試設(shè)備輸入電阻要求高; I/N曲線掃描; 上位機實時顯示各不同壓敏電阻R/t曲線,并可記錄存檔。 S系列源表+上位機軟件面議2025-04-08 -
1200V半導(dǎo)體分析儀替代4200
SPA-6100型1200V半導(dǎo)體分析儀替代4200是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿材料研究、面議2025-04-08 -
霍爾測試系統(tǒng)霍爾測試儀
產(chǎn)品簡介 霍爾測試系統(tǒng)霍爾測試儀集多種測量和分析功能一體,可精準(zhǔn)測量各種電流傳感器(霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等)的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù),單臺大電流源電流可高達1000A。該系統(tǒng)可測量不同電流傳感器的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù),具有大電流特性、極快的達到300A/us級面議2025-04-08 -
DC參數(shù)測試iv掃描源表
芯片測試作為芯片設(shè)計、生產(chǎn)、封裝、測試流程中的重要步驟,是使用特定儀器,通過對待測器件DUT(DeviceUnderTest)的檢測,區(qū)別缺陷、驗證器件是否符合設(shè)計目標(biāo)、分離器件好壞的過程。其中直流參數(shù)測試是檢驗芯片電性能的重要手段之一,常用的測試方法是FIMV(加電流測電壓)面議2025-04-08 -
功率mos測試脈沖源表30A數(shù)字源表
PXOOB系列功率mos測試脈沖源表30A數(shù)字源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,Z大脈沖輸出電流達30A,Z大輸出電壓達300V,支持四象限工作,因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。PXOOB系列源面議2025-04-08 -
分立器件檢測儀iv+cv測試儀
SPA-6100分立器件檢測儀iv+cv測試儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿材料研究、半面議2025-04-08 -
高電壓大電流-半導(dǎo)體功率測試設(shè)備
PMST系列高電壓大電流-半導(dǎo)體功率測試設(shè)備是武漢普賽斯正向設(shè)計,精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統(tǒng),是一致能夠提供IV,CV、跨導(dǎo)等豐富功能的綜合測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、模塊化設(shè)計、輕松升級擴展等優(yōu)勢,旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET.BJT、 IGB面議2025-04-08 -
SMU數(shù)字源表搭建場效應(yīng)晶體管IV特性測試實驗平臺
本科生微電子器件及材料實驗?zāi)夸? 實驗一:金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管特性IV特性測試實驗 實驗二:四探針法測量半導(dǎo)體電阻率測試實驗 實驗三: MOS電容的CV特性測試實驗 實驗四:半導(dǎo)體霍爾效應(yīng)測試實驗 實驗五:激光二極管LD的LIV特性測試實驗 實驗六:太陽能電面議2025-04-08 -
CV測試系統(tǒng)_CV測試儀_提供0V~3500V偏壓范圍
CV測試系統(tǒng)主要由源表、LCR表、矩陣開關(guān)和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)負(fù)責(zé)提供可調(diào)直流電壓偏置,通過矩陣開關(guān)加載在待測件上,內(nèi)置自動化CV測試軟件,包含C-V(電容-電壓),C-T(電容-時間),C-F(電容-頻率)等多項測試測試功能;詳面議2025-04-08 -
電流-導(dǎo)通電壓掃描測試脈沖電源300A大電流源
普賽斯HCPL030系列高電流脈沖電源為脈沖恒流源,產(chǎn)品具有輸出脈沖邊沿陡(10μs)、測試效率高(40ms,外部控制繼電器)、支持兩路脈沖電壓測量(峰值采樣)、支持輸出極性切換等特點。單臺輸出電流300A,支持至少六臺以上多設(shè)備并聯(lián)測量。設(shè)備主要針對晶圓測試,可用于300A面議2025-04-08 -
8000V半導(dǎo)體測試高壓程控電源
高電壓源測單元具有輸出及測量電壓高(8000V)、能輸出及測量微弱電流信號(1nA)的特點。設(shè)備工作在第一象限,輸出及測量電壓0~8000V,輸出及測量電流0~40mA。支持恒壓恒流工作模式,同時支持豐富的I-V掃描模式。設(shè)備可應(yīng)用于IGBT擊穿電壓測試、IGBT老化電源、防雷二極管耐壓測面議2025-04-08 -
電流響應(yīng)時間測試脈沖電源
普賽斯HCPL100型高電流脈沖電源為脈沖恒流源,具有輸出電流大(1000A)、脈沖邊沿陡(15us)、支持兩路脈沖電壓測量(峰值采樣)、支持輸出極性切換等特點。 設(shè)備可廣泛應(yīng)用于肖特基二極管、整流橋堆、IGBT器件、IGBT半橋模塊、IPM模塊等需要高電流的測試場合,使用該設(shè)面議2025-04-08 -
IC電氣特性測試數(shù)字源表
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體,支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出,全系列產(chǎn)品豐富,新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準(zhǔn)確度提升至±0.03%面議2025-04-08 -
GaN SiC三代半功率器件測試設(shè)備
PMST系列功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是武漢普賽斯正向設(shè)計、精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統(tǒng),是一款能夠提供IV、 CV、跨導(dǎo)等豐富功能的綜合測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、模塊化設(shè)計、輕松升級擴展等優(yōu)勢,旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬面議2025-04-08 -
柔性傳感器電性能測試VI源表
普賽斯儀表攜手業(yè)內(nèi)知名廠商共同打造的柔性電子材料測試系統(tǒng),通過組合不同動作的測試夾具,可以模擬扭、轉(zhuǎn)、彎、折、卷等5種基本測試動作, 11個基礎(chǔ)模擬測試動作,實現(xiàn)一機多用,讓柔性測試標(biāo)準(zhǔn)化。不僅可以測試柔性材料的折、彎、扭、拉、卷等五種基本動作,而且可以進行柔性材面議2025-04-08 -
半導(dǎo)體分立器件電性能iv測試系統(tǒng)
半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測試是對待測器件(DUT)施加電壓或電流,然后測試其對激勵做出的響應(yīng);通常半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測試需要幾臺儀器完成,如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析,過程既復(fù)雜又耗時,還占面議2025-04-08 -
電流脈沖電源1μs窄脈寬
PL系列窄脈沖LV測試系統(tǒng)是為大功率激光器LV測試而研制的,大功率激光器使用直流或者寬脈沖加電時發(fā)熱嚴(yán)重,而激光器特性受溫度影響非常大,直流或?qū)捗}沖下的測試結(jié)果并不能反映器件特性。 PL系列產(chǎn)品具有輸出電流脈沖窄、輸出脈沖電流大、支持脈沖光峰值功率檢測、支持激面議2025-04-08 -
IC芯片電特性測試數(shù)字源表
IC芯片電特性測試數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,普賽斯S系列、P系列源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集,Y秀的性價比,良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持,詳詢一八一四零六六三四七六;普賽斯儀表是手家國產(chǎn)數(shù)字源表生產(chǎn)廠家,產(chǎn)品已經(jīng)歷3年迭代完善,對標(biāo)2400、2450、2611、2601B、2651面議2025-04-08 -
wat半導(dǎo)體參數(shù)測試設(shè)備_晶圓片檢測儀
SPA-6100wat半導(dǎo)體參數(shù)測試設(shè)備_晶圓片檢測儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿材面議2025-04-08 -
igbt靜態(tài)性能測試設(shè)備
普賽斯igbt靜態(tài)性能測試設(shè)備,集多種測量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測量功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。詳詢18140663476 測試項目 集面議2025-04-08
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